UC Santa Cruz;
UC Santa Cruz;
SOI modeling; interconnect modeling; package modeling; thermal modeling;
机译:内存密集型消费类应用中用于Dram封装堆叠的铜触点互连的热特性
机译:与热界面材料有关的粘附现象和微电子包装中的焊料互连:批判性评审
机译:CCGA 1752高级互连京瓷封装在极端热环境中的可靠性评估
机译:SOI,互连,包和主板热表征
机译:用于互连和封装应用的碳纳米纤维的电学和热学表征。
机译:光谱学中的光声和光热方法以及土壤和土壤有机质的表征
机译:电子封装中金线互连在振动和热测试条件下的机械和电气特性