Dept. of E.E.;
Dept. of E.E.;
Dept. of E.E.;
Dept. of C.S.;
Dept. of E.E.;
dual vdd; dynamic vdd scaling; leakage power; negative bias temperature instability (NBTI);
机译:可同时识别电源和老化优化的变化量电源电压
机译:使用栅极尺寸,栅极长度偏置和阈值电压选择来使数字电路的统计泄漏最小化
机译:使用栅极尺寸,栅极长度偏置和阈值电压选择来使数字电路的统计泄漏最小化
机译:变异感知电源电压分配,以最大限度地降低电路劣化和泄漏
机译:最小化阈值电压变化及其对电路和FPGA的影响。
机译:设计出健壮的DNA分离式接近电路并将电路泄漏降至最低
机译:变化感知电源电压分配,用于最大限度地减少电路退化和泄漏