School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China, 150001;
line edge roughness (LER); atomic force microscope (AFM); image processing; fractal;
机译:光刻胶线边缘粗糙度的量化。 Ⅱ。缩放和分形分析以及最佳粗糙度描述符
机译:蒙版引起的线边缘粗糙度的空间比例度量
机译:基于TCAD的栅极线边缘粗糙度对纳米级MOS晶体管性能和缩放比例影响的统计分析和建模
机译:采用AFM技术通过缩放和分形概念的线边粗糙度的空间分析
机译:建立空间观测数据多尺度分析的连贯框架:将概念,统计工具和生态理解联系起来。
机译:使用多重分形技术量化选定土壤微量元素的空间变异性及其尺度关系
机译:基于Tcad的栅极线边缘粗糙度统计分析和建模对纳米级mos晶体管性能和缩放的影响