Electrical Engineering Department, University of Notre Dame, IN 46556;
机译:AlGaN / GaN HBTS和GaN BJTS的温度相关I-V特性
机译:通过频率电导测量比较AlGaN / GaN和AlGaN / InGaN / GaN异质结构的陷阱特性
机译:温度依赖性阈值电压分析对AlGaN / GaN和AlGaN / InGaN / GaN异质结构中俘获电荷的影响
机译:温度依赖性Ⅰ-ⅣAlGaN / GaN HBT和GaN BJT的特性
机译:常压高电子迁移率晶体管的设计,仿真和制造,具有温度稳定性研究
机译:Algan / GaN在没有GaN缓冲层的SIC器件上:电气和噪声特性
机译:AlGaN / GaN HFET的鳍和岛隔离以及AlGaN / GaN HFET的漏电流特性随温度变化的模型