NO 修飾探針の作製とSTM 像シミュレーション

摘要

走査プローブ顕微鏡(SPM)測定においては、探針先端の構造が測定結果に大きな影響を与える。たとえば探針先端に一酸化炭素(CO)を修飾させることにより、探針の電子状態が変化することで走査トンネル顕微鏡(STM)像の形状が変化する。また、そのCO 探針で有機分子を原子間力顕微鏡(AFM)測定することで分子骨格が可視化される。さらに最近、一酸化窒素(NO)による修飾探針を用いることで単分子スイッチを駆動することに成功しており[3]、その詳細な力応答を解明するためには、NO 修飾探針を作製することおよびその構造を決定することが非常に重要である。