Head of Computations and Professor, respectively, IRC, Materials Engineering, University of Wales Swansea, Singleton Park, Swansea, Wales SA2 8PP, UK;
机译:通过直流电位降测量通过直接电流下降测量来裂纹生长特性
机译:单边缘裂纹圆形条形断裂力学疲劳试验的直流电位降(DCPD)方法的数值校准与实验验证
机译:用于拉伸-压缩疲劳裂纹扩展测试的双刃口试样设计
机译:双刃缺口标本中裂纹生长曲线的直接电流潜在降校准
机译:使用紧凑和双缺口缺口拉伸压缩试样在蠕变疲劳条件下的裂纹扩展行为。
机译:聚合物IASCB标本的混合模式I和II断裂行为的数字图像相关性研究添加制造的裂纹槽
机译:常见裂纹增长标本的统一潜在损失校准功能