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基于C8051F单片机的温度测试仪自校准方法研究

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温度测试仪随着使用时间的增长,元器件的老化,其测量精度会逐渐降低,一般采用调节硬件电路或更改程序参数的方法进行校准,校准较为复杂.本文采用以C8051F单片机为核心的电路,设计了一种自校准方法,智能程度较高,校准精度较高,简化了校准过程.

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来源
《2012年中国仪器仪表学术、产业大会》|2012年|107-109|共3页
会议地点北京
作者
Yang Xiantao; 杨显涛; Hen Ganhui; 何干辉; Chen Qingsong; 陈青松; Liu Xibao; 刘希宝;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类温度测量仪表;制造工艺;
关键词
温度测试仪; 自校准方法; 单片机; 系统设计;

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