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熔融制样X射线荧光光谱法测定重晶石中主要组分

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摘要

采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)小于6.0％.用标准物质进行验证,测量值与之基本一致.

著录项

来源
《帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会》|2012年|234-238|共5页
会议地点杭州
作者
ZENG Xiaoping; 曾小平; SONG Wuyuan; 宋武元; WU Bing; 吴冰;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类Ｘ射线分析;
关键词
重晶石; 化学成分; X射线荧光光谱法; 质量控制;

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