首页> 中文会议>帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会 >X射线衍射法快速测算铝电解质初晶温度

X射线衍射法快速测算铝电解质初晶温度

摘要

本文介绍了一种快速测定铝电解质初晶温度的方法-“X射线衍射法测算电解质初晶温度”.用X射线衍射法准确测定分子比、氟化钙、氧化铝、氟化镁、氟化锂、氟化钾等含量的同时,测算出铝电解质初晶温度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号