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X-荧光光谱仪测角仪2θ角校正及漂移校正程序的建立

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摘要

对X-荧光光谱仪2θ角的偏移进行校正,同时利用已有标样,重新建立各元素回归曲线和漂移校正程序,使用稳定的且有适当X射线强度的样品对X射线强度进行校正,作为永久校正曲线.

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来源
《帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会》|2012年|157-160|共4页
会议地点杭州
作者
Du Xingyi; 杜兴毅;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TH744.1:TH707;
关键词
X-荧光光谱仪; 测角仪; 故障处理; 几何参数; 精度控制;

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