基于半导体制冷片的Zeta电位测量仪温控系统设计

摘要

Zeta电位测量仪在纳米颗粒表征中有重要作用,而温度是影响纳米颗粒Zeta电位测量的关键因素.为了提高纳米颗粒Zeta电位测量的准确性,本文设计了基于半导体制冷片的纳米颗粒温度控制系统.本系统由STM32F103主控模块、温度检测模块、半导体制冷片、半导体驱动电路(H桥)以及PC上位机等组成.温度控制算法采用位置式PID算法,能够根据先前的温度采样值计算控制量,通过控制PWM的脉宽进而控制半导体制冷片的工作状态,从而调节样品池颗粒的温度.该温度控制系统具有功耗低、体积小、性能稳定可靠的特点、方便使用,而上位机基于LabVIEW设计,也方便进行二次开发.