软磁磁芯高激励条件下的损耗测量技术

摘要

本文针对软磁材料在高激励条件下的测量系统进行了介绍,对损耗测试处理过程中的问题和解决办法进行了叙述,并提出了系统的解决方案。示波器法是测量软磁材料高激励条件下的最好选择。BsT-2是测量低导磁率大磁芯首选仪器BsT-Pro提供直流偏置条件下的功耗数值,同时揭示饱和特性。BsT-X系列BH测试设备能够提供自动、简易、开放的测量系统,具有最好的性价能比以及升级换代的机会;满足当今功率电子运用的需求。.

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