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Xin Zhou; 周锌; JiaoJiao Qi; 祁娇娇; Ming Qiao; 乔明; Bo Zhang; 张波;
教育部;
国务院学位委员办公室;
p型横向扩散金属氧化物半导体; 薄层绝缘衬底硅场; 背栅电压; 热载流子; 可靠性;
机译:基于场注入技术的具有多个场板的300V高侧薄层SOI场pLDMOS
机译:具有现场pLDMOS的250 V薄层SOI技术,用于高压开关IC
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机译:掩埋氧化物层的NBTI引起薄层SOI场pLDMOS的降解
机译:纳米SOI CMOS中的可靠性和性能问题。
机译:四个基于场的躯干延伸耐力测试可靠性的元分析
机译:具有自偏置累积层的超低特定导通电阻高压PLDMO的仿真研究
机译:电厂组件和系统的结构寿命,可靠性和风险分析方法(Rakenteellisen Elinian,Varmuuden ja Riskien analysoimisen Lahestymistapoja Voimalaitosten Komponenteille ja Jarjestelmille)
机译:具有改善的薄层可靠性的可固化组合物和改善薄层可靠性的方法
机译:降水特别是雨水和电磁干扰场传感器-使用差分技术区分雨水和干扰场的可靠性
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