低温(77K)下开关电容阵列ASIC性能测试

摘要

本文搭建了低温下(77K)基于SCA技术的波形数字化测试系统.该测试系统中的SCA芯片是一款集成了开关电容阵列波形采样以及串行化输出功能的32通道专用集成电路,其最大采样速率为50MSPS,读出率为16MHz,每个通道有64个采样电容,该芯片是由0.18umCMOS工艺制造.该芯片常温线性度测试积分非线性为0.39％,低温测试结果表明SCA芯片在温度降低时,偏置电流会减小,通过调整偏置电流至设计值时,可以得到比常温更好的有效精度.