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高低位置过渡法刻度探测器表面位置效率

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摘要

由于级联符合相加效应的影响,当刻度用的标准源核素种类与待测核素不同时,无法直接得到HPGe探测器表面位置处感兴趣射线的效率.采用反应堆辐照U3O8样品生产88Kr,并制备成活性炭钢盒源.利用标准源刻度探测器较高位置处效率曲线,通过高低位置过渡的方法,得到探测器表面位置的效率.

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来源
《第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会暨核电子学与核探测技术分会第八次全国会员代表大会》|2014年|258-262|共5页
会议地点兰州
作者
章剑华; 向永春; 胡广春; 伍怀龙; 王红侠; 侯建平; 胡根; 储诚胜; 曾军; 迮仁德; 丁阁; 张昌繁;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会核电子学与核探测技术分会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL816.9;
关键词
放射性核素; 刻度探测器; 表面位置效率; 高低位置过渡法;

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