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金属膜电阻器的开路失效机理

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本文以RJ-0.25W-330KΩ金属膜电阻器为例,探讨了高阻金属膜电阻器的开路失效机理.研究结果表明,导电膜的电解腐蚀引起导电膜开路导致是金属膜电阻器的整机使用中开路失效的原因.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|158-162|共5页
会议地点延安
作者
王锡清;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;
关键词
金属膜电阻器; 开路; 失效机理;

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