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电子封装失效分析新技术——双波透射SAM

摘要

本文介绍了在反射式SAM技术基础上开发的一种失效分析新技术——双波透射SAM技术的原理和应用特点.该技术依据声波在界面的反射系数R与材料声阻Z的关系,采用双程透射方法,通过入射和反射声波强度的对比分析,对界面缺陷进行定位,它是解决传统反射式SAM技术不能准确探测复杂结构界面缺陷、替代(单波)透射技术的又一新方法.

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