首页> 中文会议>第九届全国可靠性物理学术讨论会 >关于对电子元器件在长期储存试验中出现的若干失效实例的总结

关于对电子元器件在长期储存试验中出现的若干失效实例的总结

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

本文主要对在储存试验中电子元器件出现的若干失效实例的失效模式、失效机理进行归纳,总结出一些共性问题及相应的对策.

著录项

来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|73-76|共4页
会议地点延安
作者
吴洵颖;
展开▼
作者单位

中国电子学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;结构;
关键词
电子元器件; 储存试验; 失效模式; 失效机理;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 几种电子元器件长期储存的失效模式和失效机理 [J] . 李坤兰 . 电子产品可靠性与环境试验 . 2000,第006期
2. 电子元器件失效分析实例 [J] . 郑廷圭 . 电子产品可靠性与环境试验 . 1997,第004期
3. 封装形式对电子元器件长期储存可靠性研究 [J] . 张倩 . 电子元件与材料 . 2017,第006期
4. 探究电子元器件的失效模型与可靠性试验方法 [J] . 强苗 . 电子世界 . 2019,第016期
5. 电子元器件的失效模型与可靠性试验方法解析 [J] . 蒲晓明 . 科技创新与应用 . 2016,第023期
6. 电子元器件失效分析实例 [C] . 郑廷圭 . 第七届全国可靠性物理学术讨论会 . 1997
7. 电子元器件及封装质量控制中若干案例的分析研究 [A] . 宋利杰 . 2016

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号