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破坏性物理分析促进军用电子元器件质量提高

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介绍了电子五所应用破坏性物理分析(DPA)技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|22-23|共2页
会议地点延安
作者
徐爱斌; 刘发;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;结构;
关键词
破坏性物理分析; 军用电子元器件; 缺陷模式控制;

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1. 破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高 [J] . 徐爱斌 ,刘发 . 电子产品可靠性与环境试验 . 2002,第005期
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