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SOJ32型集成电路老化测试插座的设计

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摘要

老化测试是集成电路生产制造过程中的重要环节,测试插座是这一环节中必不可少的重要元件,它为集成电路应用可靠性的验证提供了重要保证.文章主要介绍了SOJ32型集成电路老化测试插座的结构设计、材料选择以及产品的测试结果,并对产品的主要性能参数进行了理论计算.

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来源
《中国电子学会元件分会第八届连接器与开关学术会议》|2004年|47-52|共6页
会议地点西安
作者
王小波;
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作者单位

中国电子学会;

中国电子元件行业协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
老化测试; 集成电路; 测试插座; 结构设计;

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