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张玮; 严伟; 孙海林;
中国电子学会;
东南大学;
杭州电子科技大学;
LCCC器件; 焊点失效; 热疲劳寿命;
机译:电子包装行业Sn3.0Ag0.5Cu / Cu无铅焊接接头的可靠性研究
机译:经过时效处理的Sn-9Zn / Cu和Sn-9Zn-0.3Ag / Cu焊接接头的可靠性研究
机译:大型LCCC的可靠性研究
机译:可重构和多功能无源RF /微波组件的共同设计
机译:通过真菌疏水蛋白将构巢曲霉中的LccC漆酶固定化
机译:综合系统中的Zulliger:可靠性研究综合系统中的Zulliger:可靠性研究综合系统中的Zulliger:可靠性研究
机译:熔体流动速率试验在光伏组件中热塑性封装材料可靠性研究中的应用
机译:动态控制磁盘驱动器中的温度曲线以进行与温度相关的可靠性研究
机译:用于检查激光焊接接头的无损检测方法在带有焊接接头的工件中的焊接接头附近感应出涡流
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