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数模混合电路的BIST研究

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本文对国内外已提出的数模混合电路的BIST进行了有效的探讨,归纳总结,总结了他们各自的结构特点.并提出了一种基于功能测试的数模混合电路BIST结构.

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来源
《第十六届全国测试与故障诊断技术研讨会》|2007年|202-205|共4页
会议地点成都
作者
雷加; 周虎;
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作者单位

中国计算机自动测量与控制技术协会;

计算机测量与控制杂志社;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、检验;
关键词
数模混合电路; BIST结构; 功能测试;

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