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碳化硼中硼同位素丰度的质谱测量

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摘要

介绍了通过对涂样技术、升温程序、氧同位素干扰等问题的研究与改进,达到了对固态B4C 样品进行热电离质谱测量的技术要求,该方法简化了样品化学前处理流程,缩短了测量时间,测量结果满足工程应用要求.

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来源
《中国核学会2009年学术年会》|2009年|3167-3173|共7页
会议地点北京
作者
杨彬; 邓辉; 梁帮宏; 张舸;
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作者单位

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL817.4;
关键词
碳化硼; 硼同位素丰度; 质谱测量;

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