基于LLE和SVM的模拟电路软故障诊断

摘要

针对模拟电路软故障的特点,提出了基于局部线性嵌入(Linear Local Embed,LLE)和支持向量机(Support Vector Machine,SVM)技术的模拟电路软故障诊断方法.该模型利用LLE算法对模拟电路故障样本进行数据挖掘,得到高维输入样本的低维映射,最后利用结构简单、泛化能力强优点的SVM进行多元分类.以某模拟电路为例,验证了该方法的有效性和适用性.