基于FFT的相位差测量及其在STM32中的实现

摘要

针对传统相位测量方法中存在误差较大的问题,本文提出了一种基于FFT谱分析的数字式相位差测量方法,并采用ARM公司的Cortex-M3内核处理器STM32F103搭建相位差测量系统.通过对一个周期内采样的64个点做FFT变换,提取出基波的参数,求取被测信号的相位差,并在LCD上显示出测量结果.该数字式相位测量系统结构简单,硬件成本低,处理速度快.通过测试得出,该测量系统有效分辨精度为1度.